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Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987 / edited by Eicke R. Weber
(Materials science monographs ; 44)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier |
| 出版年 | 1987 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | x, 320 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| (東海)旧館2F閲覧室(図書) |
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66.017(08)/M78 | 3100047988 |
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0444428925 |
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禁帯出 |
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| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (2nd : 1987 : Monterey, Calif.) Weber, Eicke R. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
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LCSH:Gallium arsenide -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Image processing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7871.85 DC19:621.3815/2 UDC:66 |
| 書誌ID | 1000076528 |
| ISBN | 0444428925 |
| NCID | BA04031349 |
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