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High resolution electron microscopy of defects in materials; Symposium. (Materials Research Society symposium proceedings, V.183) / Sinclair, R.(ed.)/Smith, D.J.(ed.)/and others

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	コメント	ISBN	刷　年	利用注記	予約	複写取寄	指定図書
(東海)旧館2F閲覧室(図書)		66.017(08)/M80	3100086424			1558990720		禁帯出

著者標目	Sinclair, R. Smith, D.J.
件　名	LCSH : Materials -- Microscopy -- Congresses//LCSH : Materials -- Defects -- Congresses//LCSH : Electron microscopy -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	UDC:66
書誌ID	1000080511
ISBN	1558990720
NCID	BA11043199