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Advances in X-ray analysis / edited by Charles S. Barrett, Paul K. Predecki and Donald E. Leyden

データ種別	図書
出版者	New York : Plenum
出版年	1985-
本文言語	英語
大きさ	v. : 26 cm
著者標目	Conference on Application of X-ray Analysis Denver Research Institute JCPDS-International Centre for Diffraction Data Barrett, C. S. (Charles Sanborn) Predecki, Paul K. Leyden, Donald E. Gilfrich, John V.
分　類	UDC:548
書誌ID	1000082151
ISBN	0306445719
NCID	BA01581773

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	コメント	ISBN	刷　年	利用注記	予約	複写取寄	指定図書
(東海)旧館2F閲覧室(図書)	v. 36	548.73(08)/A57	3100115140			0306445719		禁帯出