X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960) / edited by A. Engström, V. Cosslett, H. Pattee
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Amsterdam ; New York : Elsevier |
出版年 | 1960 |
本文言語 | 英語,ドイツ語,フランス語 |
大きさ | x, 542 p. : ill., diagrs. ; 25 cm |
別書名 | 背表紙タイトル:X-Ray microscopy and microanalysis |
一般注記 | Papers in English, German, or French Includes bibliographies |
著者標目 | *International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis (2nd : 1959 : Stockholm, Sweden) Engström, Arne ed Cosslett, V. Pattee, H. |
件 名 | LCSH:X-ray microscope -- Congresses
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LCSH:Microradiography -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:QC373.X2 DC:537.5352 UDC:548 |
書誌ID | 1000097429 |
NCID | BA06274556 |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
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(東海)旧館2F閲覧室(図書) |
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548.732/X59 | 3901282107 |
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禁帯出 |
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