この文献を取り寄せる

図書館へ購入を依頼する

この情報を出力する

このページのリンク

他の検索サイト

X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960) / edited by A. Engström, V. Cosslett, H. Pattee

データ種別 図書
出版者 Amsterdam ; New York : Elsevier
出版年 1960
本文言語 英語,ドイツ語,フランス語
大きさ x, 542 p. : ill., diagrs. ; 25 cm

所蔵情報を非表示

(東海)旧館2F閲覧室(図書)
548.732/X59 3901282107


禁帯出

書誌詳細を非表示

別書名 背表紙タイトル:X-Ray microscopy and microanalysis
一般注記 Papers in English, German, or French
Includes bibliographies
著者標目 *International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis (2nd : 1959 : Stockholm, Sweden)
Engström, Arne ed
Cosslett, V.
Pattee, H.
件　名 LCSH:X-ray microscope -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Microradiography -- Congresses  全ての件名で検索
分　類 LCC:QC373.X2
DC:537.5352
UDC:548
書誌ID 1000097429
NCID BA06274556

 類似資料

 この資料を見た人はこんな資料も見ています