OPAC

Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head ... [et al.]
(Defects in crystalline solids ; v. 7)

データ種別	図書
出版者	Amsterdam ; London : North-Holland
出版者	New York : American Elsevier
出版年	1973
本文言語	英語
大きさ	x, 400 p. with illus ; 23 cm

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	コメント	ISBN	刷　年	利用注記	予約	複写取寄	指定図書
(東海)旧館2F閲覧室(図書)		539.22(08)/D68	3948107101			0444104623			予約			予約

一般注記	Bibliography: p. [387]-389
著者標目	Head, A. K.
件　名	LCSH:Metals -- Defects -- Data processing 全ての件名で検索 LCSH:Electron microscopy -- Data processing 全ての件名で検索
分　類	LCC:QD921 DC:548/.842/02854 UDC:539
書誌ID	1000110986
ISBN	0720417570
NCID	BA07250178