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Multilayer and grazing incidence X-ray/EUV optics II : 14-16 July 1993, San Diego, California / Richard B. Hoover, Arthur B.C. Walker, Jr., chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 2011)

データ種別 図書
出版者 Bellingham, Wash. : SPIE
出版年 c1994
本文言語 英語
大きさ xiii, 592 p. : ill. ; 28 cm

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(東海)旧館2F閲覧室(図書)
535(08)/P84 21100029962
0819412600
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