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Z-CONTRAST IMAGING AND ELECTRON CHANNELING ANALYSIS OF DOPANTS IN SEMICONDUCTORS. / PENNYCOOK, S.J.(et al.)
(CONF ; CONF-8503131-2)

データ種別 レポート
出版年 1985
本文言語 英語
大きさ 7
レポート番号 CONF-8503131-2

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(東海)新館2Fマイクロ室(マイクロフィッシュ)

R0767560


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著者標目 PENNYCOOK, S.J.
書誌ID 1000695041