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STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY ATOMIC RESOLUTION Z-CONTRAST IMAGING AT 300KV / MCGIBBON, A.J.// PENNYCOOK, S.J.// WASILEWSKI, Z. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (UNITED STATES))
(CONF ; CONF-931108-68)

データ種別	レポート
出版年	1993
本文言語	英語
大きさ	7
レポート番号	CONF-931108-68