精密X線光学系による放射光実験用単結晶材料の結晶性評価 / 桐山 幸治/三井 隆也/他
(JAEA-Technology ; 2009-035)
データ種別 | レポート |
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出版者 | : 日本原子力研究開発機構 |
出版年 | 2009 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | 24 |
レポート番号 | JAEA-TECHNOLOGY-2009-035 |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
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(東海)旧館2F閲覧室(レポート) |
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21300178494 |
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別書名 | A Laboratory X-ray measurement system of the crystallinity of single crystal for the synchrotron radiation optics |
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著者標目 | 桐山, 幸治 <キリヤマ, コウジ> 三井, 隆也 <Mitsui, Takaya> 福田, 義博 <フクダ, ヨシヒロ> |
書誌ID | 1000986223 |
URL1 | https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2009-035 |
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