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特定用途向け集積回路(ASIC)用MOSFETの雑音評価(委託研究) / 山岸 秀志/藤 健太郎
(JAEA-Technology ; JAEA-TECHNOLOGY-2010-030)

データ種別 レポート
出版者 : 日本原子力研究開発機構
出版年 2010
本文言語 日本語
大きさ 16
レポート番号 JAEA-TECHNOLOGY-2010-030

所蔵情報を非表示

(東海)旧館2F閲覧室(レポート)

21300184526




書誌詳細を非表示

別書名 Noise evaluation of a MOSFET for an ASIC (Contract research)
著者標目 山岸, 秀志 <ヤマギシ, ヒデシ>
藤, 健太郎 <To, Kentaro>
書誌ID 1000986302
URL1 https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2010-030

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