特定用途向け集積回路(ASIC)用MOSFETの雑音評価(委託研究) / 山岸 秀志/藤 健太郎
(JAEA-Technology ; JAEA-TECHNOLOGY-2010-030)
データ種別 | レポート |
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出版者 | : 日本原子力研究開発機構 |
出版年 | 2010 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | 16 |
レポート番号 | JAEA-TECHNOLOGY-2010-030 |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
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(東海)旧館2F閲覧室(レポート) |
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21300184526 |
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書誌詳細を非表示
別書名 | Noise evaluation of a MOSFET for an ASIC (Contract research) |
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著者標目 | 山岸, 秀志 <ヤマギシ, ヒデシ> 藤, 健太郎 <To, Kentaro> |
書誌ID | 1000986302 |
URL1 | https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2010-030 |
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