放射性試料対応型電子プローブマイクロアナライザの遮へい評価 / 松井 寛樹 [ほか]
(JAEA-Technology ; 2014-017)
データ種別 | レポート |
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出版者 | : 日本原子力研究開発機構 |
出版年 | 2014 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | 57 |
レポート番号 | JAEA-TECHNOLOGY-2014-017 |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
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(東海)旧館2F閲覧室(レポート) |
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21300206980 |
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書誌詳細を非表示
別書名 | Evaluation of the performance of the shields in the EPMAs used for radioactive samples |
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著者標目 | 松井, 寛樹 <マツイ, ヒロキ> 鈴木, 美穂 <Suzuki, Miho> 小畑, 裕希 <オバタ, ヒロキ> 金沢, 浩之 <カナザワ, ヒロユキ> |
書誌ID | 1000986498 |
URL1 | https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2014-017 |
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