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放射性試料対応型電子プローブマイクロアナライザの遮へい評価 / 松井 寛樹 [ほか]
(JAEA-Technology ; 2014-017)

データ種別 レポート
出版者 : 日本原子力研究開発機構
出版年 2014
本文言語 日本語
大きさ 57
レポート番号 JAEA-TECHNOLOGY-2014-017

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(東海)旧館2F閲覧室(レポート)

21300206980




書誌詳細を非表示

別書名 Evaluation of the performance of the shields in the EPMAs used for radioactive samples
著者標目 松井, 寛樹 <マツイ, ヒロキ>
鈴木, 美穂 <Suzuki, Miho>
小畑, 裕希 <オバタ, ヒロキ>
金沢, 浩之 <カナザワ, ヒロユキ>
書誌ID 1000986498
URL1 https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2014-017

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