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軽イオンマイクロビーム分析/加工システムの改良 / 江夏 昌志 [ほか]
(JAEA-Technology ; 2016-006)

データ種別 レポート
出版者 : 日本原子力研究開発機構
出版年 2016
本文言語 日本語
大きさ 41
レポート番号 JAEA-TECHNOLOGY-2016-006

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(東海)旧館2F閲覧室(レポート)

21300220643




書誌詳細を非表示

別書名 Light ion microbeam analysis / processing system and its improvement
著者標目 江夏, 昌志 <Koka, Masashi>
石井, 保行 <イシイ, ヤスユキ>
山田, 尚人 <Yamada, Naoto>
大久保, 猛 <Okubo, Takeru>
加田, 渉 <Kada, Wataru>
喜多村, 茜 <キタムラ, アカネ>
岩田, 吉弘 <Iwata, Yoshihiro>
神谷, 富裕 <カミヤ, トミヒロ>
佐藤, 隆博 <サトウ, タカヒロ>
書誌ID 1000986604
URL1 https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2016-006