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JT-60Uにおける高密度ELMy Hモードプラズマの閉じ込め劣化 / 浦野 創 [ほか]
(JAERI-Research ; 2000-037)

データ種別 レポート
出版者 : 日本原子力研究所
出版年 2000
本文言語 日本語
大きさ 38 p.
レポート番号 JAERI-RESEARCH-2000-037

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(東海)旧館2F閲覧室(レポート)

3300343161




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別書名 Confinement degradation of high density ELMy H-mode plasmas in JT-60U
著者標目 浦野, 創 <ウラノ, ハジメ>
鎌田, 裕 <カマタ, ヒロシ>
白井, 浩 <シライ, ヒロシ>
滝塚, 知典 <タキヅカ, トモノリ>
井手, 俊介 <イデ, シュンスケ>
藤田, 隆明 <フジタ, タカアキ>
福田, 武司 <フクダ, タケシ>
書誌ID 1000998466
URL1 https://doi.org/10.11484/jaeri-research-2000-037

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