---

Inferring $Z_{eff}$ spatial profile from background light in incoherent Thomson scattering diagnostic / Naito Osamu, Hatae Takaki
(JAERI-Research ; 2002-033)

データ種別	レポート
出版者	: 日本原子力研究所
出版年	2003
本文言語	英語
大きさ	9
レポート番号	JAERI-RESEARCH-2002-033
別書名	非協同トムソン散乱計測における背景光データを用いた有効荷電数($Z_{eff}$)分布の測定
著者標目	内藤, 磨 <Naito, Osamu> 波多江, 仰紀 <Hatae, Takaki>
書誌ID	1000998591
URL1	https://doi.org/10.11484/jaeri-research-2002-033

 この資料を見た人はこんな資料も見ています