Mendeley出力
レーザートモグラフィー装置による光学素子の微少欠陥密度測定 / 福山 裕康, 杉山 僚
(JAERI-Tech ; 2000-058)
| データ種別 | レポート |
|---|---|
| 出版者 | : 日本原子力研究所 |
| 出版年 | 2000 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 33 p. |
| レポート番号 | JAERI-TECH-2000-058 |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
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| (東海)旧館2F閲覧室(レポート) |
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3300343658 |
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| 別書名 | Density measurements of micro defects inside optical materials using a laser tomography method |
|---|---|
| 著者標目 | 福山, 裕康 <フクヤマ, ヒロヤス> 杉山, 僚 <スギヤマ, アキラ> |
| 書誌ID | 1000999938 |
| URL1 | https://doi.org/10.11484/jaeri-tech-2000-058 |
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