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遠隔操作式高分解能走査型電子顕微鏡の開発 / 安田 良 [ほか]
(JAERI-Tech ; 2002-081)

データ種別 レポート
出版者 東海村 : 日本原子力研究所
出版年 2002
本文言語 日本語
大きさ 34 p.
レポート番号 JAERI-TECH-2002-081

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(東海)旧館2F閲覧室(レポート)

3300370743




書誌詳細を非表示

別書名 Development of remote controlled type field-emission type scanning electron microscope
著者標目 安田, 良 <ヤスダ, リョウ>
西野, 泰治 <ニシノ, ヤスハル>
三田, 尚亮 <ミタ, ナオアキ>
仲田, 祐仁 <ナカタ, マサヒト>
原田, 克也 <ハラダ, カツヤ>
野沢, 幸男 <ノザワ, ユキオ>
天野, 英俊 <アマノ, ヒデトシ>
書誌ID 1001000147
URL1 https://doi.org/10.11484/jaeri-tech-2002-081