この文献を取り寄せる

このページのリンク

JT-60イオンサイクロトロン高周波加熱装置用健全性診断システムの開発 / 横倉 賢治, 森山 伸一, 寺門 正之
(JAERI-Tech ; JAERI-TECH-97-044)

データ種別 レポート
出版者 : 日本原子力研究所
出版年 1997
本文言語 日本語
大きさ 20
レポート番号 JAERI-TECH-97-044

所蔵情報を非表示

(東海)旧館2F閲覧室(レポート)

3300255787




書誌詳細を非表示

別書名 Development of diagnostic system for JT-60 ICRF heating system
著者標目 横倉, 賢治 <ヨコクラ, ケンジ>
森山, 伸一 <モリヤマ, シンイチ>
寺門, 正之 <テラカド, マサユキ>
書誌ID 1001000794
URL1 https://doi.org/10.11484/jaeri-tech-97-044

 この資料を見た人はこんな資料も見ています