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EFFECTS OF NUCLEAR RADIATION ON A HIGH RELIABILITY SILICON POWER DIODE 3: JUNCTION CAPACITANCE. / BEEN,J.F.
(NASA technical note ; D-6330)

データ種別	レポート
出版者	: National Aeronautics and Space Administration(National Aeronautics and Space Administration)
本文言語	英語
大きさ	19
レポート番号	NASA-TN-D-6330