Thin-film analyses of silicate standards at 200 kV: the effect of temperature on element loss / Mackinnon, I.D.R., Lumpkin, G.R., Van Deusen, S.B.
(Sandia report ; SAND-86-1746C; CONF-860829-35; DE86014295)
データ種別 | レポート |
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出版者 | Albuquerque, NM (USA) : New Mexico Univ., Dept. of Geology; Sandia National Labs. |
出版年 | 1986.01 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | 13p |
レポート番号 | SAND-86-1746C; CONF-860829-35; DE86014295 |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | 複写取寄 | 指定図書 |
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(東海)新館2Fマイクロ室(マイクロフィッシュ) |
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R2131000850 |
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禁帯出 |
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著者標目 | Mackinnon, I.D.R. Lumpkin, G.R. Van Deusen, S.B. |
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書誌ID | 1001399420 |
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