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The retention characteristics of nonvolatile SNOS memory transistors in a radiation environment: Experiment and model / McWhorter, P.J., Miller, S.L., Dellin, T.A., Axness, C.L.
(Sandia report ; SAND-87-0299C; CONF-870724-9; DE87005857; TRN: 87-023732)

データ種別	レポート
出版者	Albuquerque, NM (USA) : Sandia National Labs.
出版年	1987.1
本文言語	英語
大きさ	5P
レポート番号	SAND-87-0299C; CONF-870724-9; DE87005857; TRN: 87-023732