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EVOLUTION OF OXIDATION AND CREEP DAMAGE MECHANISMS IN HIPED SILICON NITRIDE MATERIALS / WERESZCZAK, A.A.// FERBER, M.K.// KIRKLAND, T.P.// MORE, K.L. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (UNITED STATES))
(CONF ; CONF-940865-4)

データ種別	レポート
出版年	1994
本文言語	英語
大きさ	14
レポート番号	CONF-940865-4