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AMORPHIZATION THRESHOLD IN SI-IMPLANTED STRAINED SIGE ALLOY LAYERS / SIMPSON, T.W.// LOVE, D.// ENDISCH, E.// GOLDBERG, R.D.// MITCHELL, I.V.// HAYNES, T.E.// BARIBEAU, J.M. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (UNITED STATES))
(CONF ; CONF-941144-105)

データ種別 レポート
出版年 1994
本文言語 英語
大きさ 7
レポート番号 CONF-941144-105

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(東海)新館2Fマイクロ室(マイクロフィッシュ)

R0593751


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