OPAC

Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge
(International Union of Crystallography monographs on crystallography ; 10)

データ種別	図書
出版者	Oxford ; Tokyo : Oxford University Press
出版年	1999
本文言語	英語
大きさ	xxii, 785 p. : ill. ; 24 cm

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	コメント	ISBN	刷　年	利用注記	予約	複写取寄	指定図書
(東海)旧館2F閲覧室(図書)	: hbk	548(08)/I98	3100197841			0198501897		一般本	予約			予約

一般注記	Includes bibliographical references and index
著者標目	*Snyder, R. L. (Robert L.), 1941- Fiala, Jaroslav Bunge, H.-J. (Hans Joachim)
件　名	LCSH:Crystals -- Defects -- Analysis 全ての件名で検索 LCSH:Diffraction LCSH:X-ray crystallography
分　類	LCC:QD945 DC21:548/.83 UDC:548
書誌ID	1000089808
ISBN	0198501897
NCID	BA45673212