OPAC

LEEM PEEM オモチイタヒョウメンケンキュウノアタラシイテンカイ : ナノテクノロジーソウゴウシエンプロジェクトワークショップ : PF ケンキュウカイ
LEEM/PEEMを用いた表面研究の新しい展開 : ナノテクノロジー総合支援プロジェクトワークショップ : PF研究会 / 越川孝範 [ほか編]
(KEK proceedings ; 2007-15)

データ種別	レポート
出版者	Tsukuba : High Energy Accelerator Research Organization
出版年	2008.2
本文言語	日本語,英語
大きさ	29p : 挿図 ; 30cm
レポート番号	KEK-PROCEEDINGS-2007-15

配架場所	巻　次	請求記号	登録番号	状　態	コメント	ISBN	刷　年	利用注記	予約	複写取寄	指定図書
(東海)旧館2F閲覧室(レポート)			3300602657

別書名	表紙タイトル:Progresses in low energy electron microsopy and photoemission electron microscopy studies (LEEM & PEEM)
一般注記	その他の編者: 安江常夫,小林啓介,木下豊彦,小野寛太会期・会場:平成17年10月12日-13日高エネルギー加速器研究機構
著者標目	越川, 孝範 <コシカワ, タカノリ>
件　名	NDLSH:表面(物理学) NDLSH:電子顕微鏡
分　類	NDC9:428.4 NDLC:MC141
書誌ID	1001036852
NCID	BB02570259