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JT-60分光計測用機器の耐放射線性試験; 臨界プラズマ試験装置設計報告,126 / 西谷健夫 [ほか]
(JAERI-M ; JAERI-M-84-047)

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(東海)旧館2F閲覧室(レポート)			3300448861

別書名	Irradiation Effcts on Components of Spectroscopic Measurement Device for JT-60 Diagonostics
著者標目	西谷, 健夫 <ニシタニ, タケオ> 杉江, 達夫 <スギエ, タツオ> 田中, 隆一 <タナカ, リュウイチ> 中村, 義輝 <ナカムラ, ヨシテル> 平尾, 敏雄 <ヒラオ, トシオ> 金子, 哲 <カネコ, サトル> 森, 治通 <モリ, ハルミチ> 山下, 貴司 <ヤマシタ, タカジ> 金原, 政男 <キンパラ, マサオ> 永田, 浩 <ナガタ, ヒロシ> 松本, 明 <マツモト, アキラ> 中澤, 正治 <ナカザワ, マサハル> 前田, 彦祐 <マエダ, ヒコスケ>
書誌ID	1000992265
URL1	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-84-047