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CHARACTERISTICS OF CMOS ANALOG INTEGRATED STRUCTURES USING MOSIS (METAL OXIDE SEMICONDUCTOR IMPLEMENTATION SYSTEM) / BRITTON, C.L. JR.//ROCHELLE, J.M.//ALLEY, G.T.//NEWPORT, D.F.// BRYAN, W.L.//ERICSON, M.N. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (USA))
(CONF ; CONF-891087-5)

データ種別	レポート
出版年	1989
本文言語	英語
大きさ	7
レポート番号	CONF-891087-5
著者標目	BRITTON, C.L. JR. ROCHELLE, J.M. ALLEY, G.T. NEWPORT, D.F. BRYAN, W.L. ERICSON, M.N. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (USA))
書誌ID	1000708867