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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡, X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著 A1 副島, 啓義 (1939-) YR 1987 FD 1987.2 SP x, 597, 5p K1 光学分析 K1 エックス線分光分析 K1 エックス線分光分析 K1 微量分析 PB 日刊工業新聞社 PP 東京 SN 4526021008 LA Japanese (日本語) CL NDC8:433.5 CL NDLC:PA124 CL UDC:543 NO 引用・参考文献: p592-597 NO 書誌ID=1000074132; NCID=BN00749109; LK [OPAC]https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_link/bibid/1000074132 OL 58