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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #高橋 広幸)
該当件数:4件
逆動特性法を用いた大きな負の反応度測定法の開発 / 高橋 広幸, 竹内 光男, 村山 洋二
: 日本原子力研究所 , 2001. - (JAERI-Tech ; 2001-072)
レポート
定常的な中性子源の影響を受ける場合の逆動特性法による制御棒反応度価値測定手法の開発 / 竹内 光男 [ほか]
: 日本原子力研究所 , 2000. - (JAERI-Tech ; 2000-054)
k$_{0}$法に基づく中性子放射化分析法を用いた高純度チタン及び炭化ケイ素(SiC)の不純物元素の分析; 研究炉を用いたシリコン照射の生産性向上に関する技術開発(共同研究) / 本橋 純/高橋 広幸/他
: 日本原子力研究開発機構 , 2009. - (JAEA-Technology ; 2009-036)
実験炉組合せ照射(JRR-3⇔常陽)及びホット施設(WASTEF,JMTRホットラボ,MMF,FMF)の作業計画と作業報告; 長寿命プラント照射損傷管理技術に関する研究開発 / 松井 義典 [ほか]
: 日本原子力研究開発機構 , 2010. - (JAEA-Technology ; 2009-072)