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検索キーワード:(件名: #Thin films)
該当件数:5件
Physical measurement and analysis of thin films / edited by E. M. Murt and W. G. Guldner
New York : Plenum Press , 1969. - (Progress in analytical chemistry ; v. 2)
図書
Ion beam surface layer analysis : proceedings of the International Conference held on June 18-20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y., and sponsored by the National Science Foundation and the IBM Corporation / edited by James W. Mayer and James F. Ziegler
Lausanne : Elsevier Sequoia S.A. , 1974
Vacuum technology, thin films, and sputtering : an introduction / R.V. Stuart
New York : Academic Press , 1983
Amorphous insulating thin films; Symposium. (Materials Research Society symposium proceedings, V.284) / Kanicki, J.(ed.)/Warren, W.L.(ed.)/and others
Pittsburgh, Pa. : MRS , 1993
Atomistic mechanisms in beam synthesis and irradiation of materials : symposium held December 1-2, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A. / editors, J.C. Barbour ... [et al.]
Warrendale, Pa. : Materials Research Society , 1999. - (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 504)