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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #GLEASON S.S.)
該当件数:7件
RAPID YIELD LEARNING THROUGH OPTICAL DEPECT AND ELECTRICAL TEST ANALYSIS. / GLEASON, S.S.(et al.)
: Oak Ridge National Laboratory(Oak Ridge National Laboratory) , 1998. - (ORNL ; ORNL/CP-96817; DE98005062)
レポート
FRONT-END DATA REDUCTION IN COMPUTER-AIDED DIAGNOSIS OF MAMMOGRAMS: A PILOT STUDY. / GLEASON, S.S.(et al.)
: Oak Ridge National Laboratory(Oak Ridge National Laboratory) , 1999. - (ORNL ; ORNL/CP-101909; DE00003916)
APPLICATION OF SPATIAL SIGNATURE ANALYSIS TO ELECTRICAL TEST DATA: VALIDATION STUDY. / GLEASON, S.S.(et al.)
: Oak Ridge National Laboratory(Oak Ridge National Laboratory) , 1999. - (ORNL ; ORNL/CP-101514; DE00003922)
ROBUST POSE DETERMINATION FOR AUTONOMOUS DOCKING / GODDARD, J.S.// JATKO, W.B.// FERRELL, R.K.// GLEASON, S.S. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (UNITED STATES))
, 1995. - (CONF ; CONF-950232-4)
DSP ACCELERATOR FOR THE WAVELET COMPRESSION/DECOMPRESSION OF HIGH-RESOLUTION IMAGES / HUNT, M.A.// GLEASON, S.S.// JATKO, W.B. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (UNITED STATES))
, 1993. - (CONF ; CONF-9309245-1)
SUBPIXEL MEASUREMENT OF IMAGE FEATURES BASED ON PARABOLOID SURFACE FIT / GLEASON, S.S.// HUNT, M.A.// JATKO, W.B. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (USA))
, 1990. - (CONF ; CONF-9011125-5)
SEMICONDUCTOR DEFECT DATA REDUCTION FOR PROCESS AUTOMATION AND CHARACTERIZATION / TOBIN, K.W.// GLEASON, S.S.// KARNOWSKI, T.P.// BENNETT, M.H. (OAK RIDGE NATIONAL LAB., TN (UNITED STATES))
, 1996. - (CONF ; CONF-9606157-1)