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検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #SMYRL N.R.)
該当件数:4件
INFRARED INTERFEROMETRIC THICKNESS MEASUREMENT OF POLY MERIC THIN FILMS AND COATINGS. / SMYRL, N.R.
(Y ; Y-2176)
レポート
CHARACTERIZATION OF POLYCHLORINATED BIPHENYL CONGENERS AND ISOMERS IN COMMERCIAL AROCLOR MIXTURES / SMYRL, N.R.// HEMBREE, D.H. JR.// WILLIAMS, D.M. (OAK RIDGE Y-12 PLANT, TN (UNITED STATES))
, 1992. - (Y ; Y/DK-883)
SURFACE INSPECTION USING FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY / POWELL, G.L.// SMYRL, N.R.// WILLIAMS, D.M.// MEYERS, H.M. III// BARBER, T.E.// MARRERO-RIVERA, M. (OAK RIDGE Y-12 PLANT, TN (UNITED STATES))
, 1994. - (Y ; Y/DZ-1113/R1)
NONDESTRUCTIVE INSPECTION OF GRAPHITE-EPOXY LAMINATES FOR HEAT DAMAGE USING DRIFT AND LPF SPECTROSCOPIES / POWELL, G.L.// SMYRL, N.R.// JANKE, C.J.// WACHTER, E.A.// FISHER, W.G.// LUCANIA, J.// MILOSEVIC, M.// AUTH, G. (OAK RIDGE Y-12 PLANT, TN (UNITED STATES))
, 1993. - (Y ; Y/DZ-1008/R1)